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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-膜厚儀系列-反射膜厚儀-SR-M顯微膜厚儀
簡要描述：在線膜厚儀,SR-M顯微膜厚儀針對特定微小區(qū)域，可提供微米級的聚焦光斑，同時利用顯微物鏡定位測量點，從而獲取精準(zhǔn)位置的厚度表征結(jié)果。
產(chǎn)品型號： 更新時間：2025-04-27 瀏覽次數(shù)：2905
廠家實力
Manufacturer Strength
有效保修
Valid Warranty
質(zhì)量保障
Quality Assurance產(chǎn)品中心
PRODUCT CATEGORY
詳細(xì)介紹
一、概述
SR-M 針對特定微小區(qū)域，可提供微米級的聚焦光斑，同時利用顯微物鏡定位測量點，從而獲取精準(zhǔn)位置的厚度表征結(jié)果。
■ 光斑大小可進行定制，最小可達到10um；
■ 非接觸、非破壞測量；
■ 核心算法支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析；
■ 配置靈活、支持定制化
二、產(chǎn)品特點
■ 采用高強度鹵素光源，光源穩(wěn)定性好；
■ 采用光機電高度整合一體化設(shè)計，體積小，操作簡便；
■ 基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理，輕松解析單層薄膜到多層；
三、產(chǎn)品應(yīng)用
顯微膜厚儀廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì)保護膜、有機薄膜、無機薄膜、金屬膜、涂層等薄膜測量。
技術(shù)參數(shù)
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