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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學(xué)的管理促進企業(yè)迅速發(fā)展膜厚測試儀主要用于測量薄膜或涂層材料的厚度。根據(jù)工作原理的不同,可以分為幾種類型,常見的有電渦流法、磁性法、X射線熒光法等。這些測試方法依賴于不同的物理原理來進行膜層厚度的測量。電渦流法通常用于非鐵金屬表面,而磁性法則專門應(yīng)用于鐵磁性材料的膜層測量。無論是哪種類型的膜厚測試儀,都需要一些關(guān)鍵的耗材和附件來保證測量的精度和儀器的長期穩(wěn)定運行。下面將詳細(xì)介紹常見的耗材和附件。主要耗材:1.探頭與傳感器探頭和傳感器是直接與待測物體表面接觸的核心部件。探頭根據(jù)不同的測量方式,通常分為...
查看詳情教學(xué)橢偏儀作為一種重要的光學(xué)測量工具,廣泛應(yīng)用于研究、材料分析以及工業(yè)測試領(lǐng)域。在教學(xué)中,不僅能幫助學(xué)生直觀理解光學(xué)原理,還能加深學(xué)生對光學(xué)薄膜、表面特性等物理現(xiàn)象的認(rèn)識。針對教學(xué)需求設(shè)計的橢偏儀,通常具備一定的特殊設(shè)計特點,旨在簡化操作、提高實用性和適應(yīng)性,幫助學(xué)生掌握科學(xué)實驗方法與數(shù)據(jù)分析技能。教學(xué)橢偏儀的設(shè)計不同于研究型和工業(yè)型橢偏儀,通常更注重易用性和教育功能。其設(shè)計理念主要體現(xiàn)在以下幾個方面:1.簡單易操作需要盡量簡化操作流程,減少過多復(fù)雜的設(shè)置,使學(xué)生能夠在較短的...
查看詳情隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,集成電路(IC)的制造工藝變得越來越精密,尤其是在薄膜沉積和刻蝕等工藝中,厚度控制顯得尤為重要。紅外干涉測厚儀作為一種高精度的非接觸式測量工具,在半導(dǎo)體制造過程中得到了廣泛應(yīng)用。其原理基于紅外干涉現(xiàn)象,通過反射光波與薄膜表面之間的相位差來實現(xiàn)對薄膜厚度的測量。以下將分析紅外干涉測厚儀在半導(dǎo)體制造中的應(yīng)用及優(yōu)勢。1、高精度厚度測量在半導(dǎo)體制造中,薄膜的厚度對器件的性能具有直接影響。例如,在光刻、化學(xué)氣相沉積(CVD)、原子層沉積(ALD)等過程中,薄膜...
查看詳情穆勒矩陣光譜橢偏儀作為一種精密光學(xué)測量儀器,在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中扮演著重要角色。它用于分析光的偏振狀態(tài)及其與物質(zhì)相互作用的性質(zhì),對半導(dǎo)體、液晶、薄膜材料等的厚度、折射率、吸收系數(shù)等參數(shù)有著精確的測量能力。然而,為了確保其長期穩(wěn)定運行和高精度測量,全面的維護策略是不可少的。本文將從定期清潔、校準(zhǔn)調(diào)整、光源與光纖檢查、軟件與系統(tǒng)更新、安全操作與規(guī)范使用等方面,詳細(xì)介紹穆勒矩陣光譜橢偏儀的全面維護策略。一、定期清潔定期清潔是確保光譜橢偏儀測量精度的基礎(chǔ)。應(yīng)使用軟布輕輕擦拭儀器的外...
查看詳情頤光科技為您精選了多款光譜橢偏儀、反射膜厚儀自研產(chǎn)品。光譜橢偏儀ME-L穆勒矩陣橢偏儀ME-L是一款全自動高精度穆勒矩陣光譜橢偏儀,擁有行業(yè)前沿的光路調(diào)制技術(shù),采用半導(dǎo)體制冷式探測器,具有超高靈敏度和極快的信號采集速度,同時也包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等。ME-Mapping光譜橢偏儀ME-Mapping光譜橢偏儀可以滿足大尺寸晶圓的多點自動化掃描測量需求,自定義繪制測量路徑,支持實時顯示膜厚分布以及數(shù)據(jù)匯總。設(shè)備采用雙旋轉(zhuǎn)補償器調(diào)制技術(shù),直接測...
查看詳情橢偏儀在AR衍射光波導(dǎo)行業(yè)中的應(yīng)用AR衍射光波導(dǎo)是什么?目前,市面上較成熟的AR光學(xué)顯示方案主要有棱鏡方案、Birdbath方案、自由曲面方案和光波導(dǎo)方案等。各方案都有不同維度上的側(cè)重,但真正滿足AR產(chǎn)品需求的光學(xué)方案其實并不多。AR光學(xué)顯示方案特點缺點棱鏡方案可實現(xiàn)全彩顯示,技術(shù)成熟,價格便宜FOV不夠大,AR體驗感不強,無法做成眼鏡形態(tài)自由曲面方案成像色彩飽和、視場角大、功耗較低,體積適中比普通眼鏡更厚、重,外界透光率較低、圖像容易畸變Birdbath方案結(jié)構(gòu)簡單、門檻低...
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